概述

電阻率是決定半導體材料電學特性的重要參數，為了表征工藝質量以及材料的摻雜情況，需要測試材料的電阻率。半導體材料電阻率測試方法有很多種，其中四探針法具有設備簡單、操作方便、測量精度高以及對樣品形狀無嚴格要求的特點。因此，目前檢測半導體材料電阻率，尤其對于薄膜樣品來說，四探針是很常用的方法。

英鉑科學儀器的四探針法測量半導體電阻率的測試方案，采用美國吉時利公司的高精度源表(SMU)，可以在輸出電流時測試電壓，也可以在輸出電壓時測試電流。輸出電流范圍從皮安級到安培級可控，測量電壓分辨率高達微伏級。支持四線開爾文模式，適用于四探針測試，可以簡化測試連接，得到準確的測試結果。

上位機軟件CycleStar指導電阻率測試步驟，測試方法清晰明確，即使不熟練的工程師也能迅速掌握測試方法。

內置電阻率計算公式，測試結束后直接從電腦端讀取計算結果，方便靈活的做后續處理分析系統主要由源測量單元、探針臺和上位機軟件組成。四探針可以通過前面板香蕉頭或者后面板三同軸接口連接到源表上。