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    三維磁場探針臺

    MPS-C-350探針臺可以完全將樣品放在可控三維磁場進行測試。 MicroXact獨特的設計使自旋電子器件、納米電子器件和許多其他材料和器件的晶圓級測試成為可能。

    特點與優勢

    • · 磁場可以以三種模式被任意控制:固定的值, 線性掃描, 或者用戶可以自定義。

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      · Wafer size:10mm,可升級到200mm

      · 磁場:方向任意三維大至6kOe (0.6T)

      · 定向精度+/- 1.0

      · 在10mm直徑范圍內的均勻性+/- 2%

      · 穩定性優于0.1%

      · 頻率范圍:DC to ~ 67GHz

      · 分辨率:200mG

      · CHUNK: Isolated, grounded or coaxial.

      · 運動范圍:100mm x 100mm

      · 集成MPS系列軟件,可在完全可控的三維磁場中快速、簡便地捕獲圖像/視頻。

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