全球首個155mm高頻專用探針臺，專為高達1.5THz或更高的mmW和THz晶圓上測量而設計；
無縫集成任何高達1.5THz的帶 差分或寬帶擴頻器；最大的機械穩定性和可重復性，結合方便和安全的操作；
MPI大功率器件表征系統是專門為晶圓上大功率器件測試而設計的。MPI TS150-HP和TS200-HP探針系統提供了完整的150mm和200mm晶圓上解決方案，可在較寬的溫度范圍內實現功率半導體的低接觸電阻測量。
單機多應用設計
? 通用于高功率器件量測和晶圓級測試應用，如組件特性描述和建模，晶圓級可靠性(WLR)、失效分析 (FA)、集成電路工程、微型機電系統 (MEMS)工效學與安全設計
? 方便單手操作的快速釋放拖移氣浮載物臺設計
? 堅固且可乘載多達 10 支高電壓 HV 或 4 支大電流HC 微定位器的工作臺
? 電磁屏蔽箱和工作臺電弧屏蔽 ArcShieldTM設計，為高電壓量測提供安全防護
? 支持較寬的溫度范圍：20℃至300℃
MPI獨特的氣墊載物臺設計，具有MPI獨特簡單的單手快速移動控制，為快速的XY導航和晶圓裝載提供了很強的操作便利性，同時又具有額外精密的25x25mm的XY-Theta千分尺機芯，提供更精準的定位能力。
MPI提供高達10KV同軸、600A的卡盤選件，電磁屏蔽和工作臺電弧屏蔽ArcShieldS設計為提高電壓量測提供安全防護。
MPI高功率探測解決方案包括專用的高壓、大電流和超大功率探頭。
MPI的高壓探頭能高壓測試期間進行低泄漏電流測量，測試高達3kV的三軸或5 kV和10kV的同軸設置。
HCP使用MPI專有的多觸點尖端來降低接觸電阻，以進行高達600A的超高電流測量。
UHP探頭兼具這兩種功能，并且無需為高壓和高電流應用更換探頭。
標準的手動高功率探頭系統配置有暗箱或紅外激光光幕，可以提供用于安全和EMI屏蔽功能的互鎖，且能夠確保低噪聲、準確和安全的測量。
TS150-HP / TS200-HP可以配置各種儀器連接套件，其中包括必要的高壓/大電流探頭和電纜附件，以便連接至測試儀器，例如Keysight B1505（3kV或10kV）或Keithley 2600-PCT-XB，包括集成的8020大功率接口面板。
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