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    產品中心

    TS2000-IFE Series

    MPI TS2000-IFE 是一個自動化平臺,可以從一開始或之后的任何時間在現場轉換為全自動探測站。 它融合了 MPI 先進技術,例如PHC?作為標準功能和mDrive?或VCE?可選或升級。 主要應用是負載牽引、射頻、毫米波、 硅光子學、設計驗證(產品工程)或在定義的測試環境下測試MEMS和其他傳感器。與 WaferWallet 結合使用?MAX MPI 正在解決這些特定應用從實驗室到 Fab 的過渡。

    特點與優勢

    • 生產力提高

       

      MPI 的 WaferWallet®MAX 是可現場升級的,從多個 100 或 150 或 200 毫米晶圓收集數據,并將測試提升到預生產環境中。具有較快的熱轉換時間、縮短的浸泡時間、先進的對準技術、晶圓盒或晶圓熱/冷交換WaferWallet®MAX 將系統生產力和測試電池效率提高了 10 倍。

       

    • 對準功能

       

      先進的對準功能,例如向下看的離軸和卡盤安裝的向上看的相機,使 TS2000-IFE 成為在復雜的 RF、mmW 和 SiPh 測量配置中進行測試的理想平臺。MPI 光子自動化部門數十年的經驗使這些功能高度可靠。Wafer-ID 讀取器也可作為選件提供。

       

       

       

       

    • IceFreeEnvironment™

       

      結合 MPI 的 IceFreeEnvironment™,TS2000-IFE 可在-60 ° C 至 +300 ° C的寬溫度范圍內同時使用 MicroPositioner 和探針卡進行測試。該設計縮短了信號路徑,從而使探針臺成為毫米波和/或負載牽引應用的理想選擇。

       

    • 熱卡盤集成

       

      由于集成了智能冷卻器,TS2000-IFE 提供了優化的占地面積,以節省實驗室的寶貴空間以及最快的熱轉換時間。MPI 和 ERS ??共同設計了新的 PRIME 200 mm 卡盤系列,提供很好的熱靈活性,將浸泡時間縮短 60%,并提供廣泛的熱范圍和現場升級。熱力系統可以通過使用完全集成的觸摸屏顯示器進行操作,放置在操作員面前的方便位置,以便快速操作和即時反饋。

       

    • 集成硬件控制面板

       

      智能硬件控制面板完全集成到探頭系統中,基于數十年的經驗和客戶交互設計,提供更快、更安全、更方便的系統控制和測試操作。鍵盤和鼠標位于戰略位置,可在必要時控制軟件,還可控制 Windows®基于儀器。

       

       

       

    • ERS 專利 AC3 冷卻技術合并

       

      這些卡盤采用 AC3 冷卻技術和自我管理系統,使用循環冷卻空氣凈化 MPI ShielDEnvironment™,空氣消耗量大幅降低 30% 至 50%。

       

    • MPI SENTIO®

       

      通過使用基于簡單性和真正直觀操作的新穎方法,MPI 開發出革命性的多點觸控探針控制軟件套件,以解決當今操作復雜探針測試系統的挑戰。MPI 的目標是顯著節省培訓時間并使操作員的生活盡可能輕松,即使通過操作全自動 TS2000-IFE 探針臺也是如此。

       

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