Cantilever Probe Card
MPl懸臂探針卡廣泛應用于金凸點和焊盤晶圓測試，用于顯示驅動器、邏輯和存儲設備。MPI的懸臂式探頭是對細間距、小焊盤尺寸、高速、清潔少、多DUT、高引腳數和超低泄漏要求的相應解決方案。
全球首個155mm高頻專用探針臺，專為高達1.5THz或更高的mmW和THz晶圓上測量而設計；
無縫集成任何高達1.5THz的帶 差分或寬帶擴頻器；最大的機械穩定性和可重復性，結合方便和安全的操作；
MPl懸臂探針卡廣泛應用于金凸點和焊盤晶圓測試，用于顯示驅動器、邏輯和存儲設備。MPI的懸臂式探頭是對細間距、小焊盤尺寸、高速、清潔少、多DUT、高引腳數和超低泄漏要求的相應解決方案。
• 使用對角線或托架應用程序執行多個DUT配置，以實現超常規對齊和平面度
• 減少高溫或低溫試驗期間的熱變形
• R+和U+結構的高速解決方案，用于嚴格的Pl和Sl應用
• 通過先進的探針材料和設計，穩定低接觸電阻性能
• 交付周期短，是工程設備的理想選擇
上海市松江區廣富林東路199號啟迪漕河涇三期13幢2層
上海市高新技術企業，上海市“專精特新”企業
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