Hanwa HCE-5000
? 獨立的測試系統，便攜式空間占用小，性價比高。
? 搭配嵌入式操作屏幕，無需外置PC或Curve tracer可獨立完成HBM，MM和漏電測試
? 適應于功率半導體器件及少管腳IC
全球首個155mm高頻專用探針臺，專為高達1.5THz或更高的mmW和THz晶圓上測量而設計；
無縫集成任何高達1.5THz的帶 差分或寬帶擴頻器；最大的機械穩定性和可重復性，結合方便和安全的操作；
? 獨立的測試系統，便攜式空間占用小，性價比高。
? 搭配嵌入式操作屏幕，無需外置PC或Curve tracer可獨立完成HBM，MM和漏電測試
? 適應于功率半導體器件及少管腳IC
• 易于使用的觸摸屏界面
設置可以在沒有PC的情況下進行調整
• 符合多種標準
滿足JEDEC/ESDA/AEC/JEITA對HBM/MM的要求
• 泄漏與曲線追蹤
測試前后
方法1：變化百分比
方法2：絕對值
• HBM快速/慢速單元（可選）
HBM波形上升時間變化的兩種單位。
快速上升時間=2-3ns，慢速上升時間=8-10ns（標準=5-7ns）
上海市松江區廣富林東路199號啟迪漕河涇三期13幢2層
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