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    Hanwa HCE-5000

    ? 獨立的測試系統,便攜式空間占用小,性價比高。
    ? 搭配嵌入式操作屏幕,無需外置PC或Curve tracer可獨立完成HBM,MM和漏電測試
    ? 適應于功率半導體器件及少管腳IC

    特點與優勢

    • 特點

       

       

      • 易于使用的觸摸屏界面

       

        設置可以在沒有PC的情況下進行調整

       

       

      • 符合多種標準

       

        滿足JEDEC/ESDA/AEC/JEITA對HBM/MM的要求

       

       

      • 泄漏與曲線追蹤

       

        測試前后

          方法1:變化百分比

          方法2:絕對值

       

       

       

      • HBM快速/慢速單元(可選)

       

        HBM波形上升時間變化的兩種單位。

        快速上升時間=2-3ns,慢速上升時間=8-10ns(標準=5-7ns)

       

    •  

       

                                                                          

       

       

       

    •  

       

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