Hanwa HED-T5000
? 用于半導體元器件靜電保護電路抗靜電能力的測試，通過該測試可以清楚的了解到元器件的抗靜電能力的特性參數，器件開發人員通過這些參數可以了解到元器件ESD設計窗口，從而對元器件保護電路作進一步改進。
? 該設備也可通過給GATE端加DC電源，測試功率器件的SOA特性曲線。
全球首個155mm高頻專用探針臺，專為高達1.5THz或更高的mmW和THz晶圓上測量而設計；
無縫集成任何高達1.5THz的帶 差分或寬帶擴頻器；最大的機械穩定性和可重復性，結合方便和安全的操作；
? 用于半導體元器件靜電保護電路抗靜電能力的測試，通過該測試可以清楚的了解到元器件的抗靜電能力的特性參數，器件開發人員通過這些參數可以了解到元器件ESD設計窗口，從而對元器件保護電路作進一步改進。
? 該設備也可通過給GATE端加DC電源，測試功率器件的SOA特性曲線。
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