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    Hanwa HED-T5000

    ? 用于半導體元器件靜電保護電路抗靜電能力的測試,通過該測試可以清楚的了解到元器件的抗靜電能力的特性參數,器件開發人員通過這些參數可以了解到元器件ESD設計窗口,從而對元器件保護電路作進一步改進。
    ? 該設備也可通過給GATE端加DC電源,測試功率器件的SOA特性曲線。

    特點與優勢

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