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    Hanwa HED-W5000M

    低成本高性能晶圓ESD測試儀。
    從LED到系統LSI的大口徑Wafer,可適用于HBM和MM的放電 ESD印加后,可根據漏電流測試判斷pass/fail 并且可以與ESD測試有關聯性的TLP測試設備進行組合測試 對ESD測試中發生問題的器件,能有效取得保護電路中的工作參數,是滿足日本、國際標準的高可靠性設備。(滿足JEITA/ESDA/JEDEC規格)

    特點與優勢

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      •  HBM波形在晶圓級實時捕獲。

       

       

       

      •  符合J EDEC、ESDA和JEITA標準。

       

       

       

      •  提高效率,使用一個測試儀執行兩個測試。

       

       

       

      •  Zap裝置可以安裝在探測站上。

       

       

       

      •  封裝級性能可以從晶圓級測試結果推斷出來。

       

       

       

      •  可選HMM zap測試(IEC 61000-4-2)。

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