Hanwa HED-W5000M
低成本高性能晶圓ESD測試儀。
從LED到系統LSI的大口徑Wafer，可適用于HBM和MM的放電 ESD印加后，可根據漏電流測試判斷pass/fail 并且可以與ESD測試有關聯性的TLP測試設備進行組合測試 對ESD測試中發生問題的器件，能有效取得保護電路中的工作參數，是滿足日本、國際標準的高可靠性設備。（滿足JEITA/ESDA/JEDEC規格）
全球首個155mm高頻專用探針臺，專為高達1.5THz或更高的mmW和THz晶圓上測量而設計；
無縫集成任何高達1.5THz的帶 差分或寬帶擴頻器；最大的機械穩定性和可重復性，結合方便和安全的操作；
低成本高性能晶圓ESD測試儀。
從LED到系統LSI的大口徑Wafer，可適用于HBM和MM的放電 ESD印加后，可根據漏電流測試判斷pass/fail 并且可以與ESD測試有關聯性的TLP測試設備進行組合測試 對ESD測試中發生問題的器件，能有效取得保護電路中的工作參數，是滿足日本、國際標準的高可靠性設備。（滿足JEITA/ESDA/JEDEC規格）
• HBM波形在晶圓級實時捕獲。
• 符合J EDEC、ESDA和JEITA標準。
• 提高效率，使用一個測試儀執行兩個測試。
• Zap裝置可以安裝在探測站上。
• 封裝級性能可以從晶圓級測試結果推斷出來。
• 可選HMM zap測試（IEC 61000-4-2）。
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